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高壓直流偏壓下介質(zhì)電容的測量
非線性電介質(zhì)：當使用商用LCR儀表或分析儀（如安捷倫/Keysight 4284A、E4980A、4294A）測量電容（介電常數(shù)）時，施加的電壓僅為1V左右。
然而，許多壓電陶瓷（PZT）和聚合物（PVDF）對外加電場具有非線性響應。通常，它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下會降低。
在電容器和執(zhí)行器等許多應用中，電介質(zhì)層在大于10 V/um或大于100 V/um的高電場下工作，其有效介電常數(shù)和tand與常規(guī)LCR計或帶有1 VRM的阻抗分析儀測得的值顯著不同。
如果試樣在高測試電壓和溫度下突然發(fā)生介質(zhì)擊穿，則在介電測試期間直接向試樣施加高電壓有可能使昂貴的LCR儀表失效。
PolyK PK-HVC1801功能：在高直流偏壓（±4000 V）下進行介電試驗時，當試樣發(fā)生介電擊穿時，保護昂貴的LCR儀表/分析儀。
規(guī)格
1.最大電壓：±4000 V
2.最大電流：±20 mA
3.頻率范圍：100 Hz至1 MHz
4.樣品Cp:100 pF至100 nF
5.溫度：-184至250°C
6.測試夾具與高壓放大器之間的安全聯(lián)鎖
主要成分
1.PK-HVC1801保護和控制系統(tǒng)，帶HVHT試驗夾具[匹配DD9023和Sun EC1A溫度箱]
2.測試控制軟件和筆記本電腦
3.Trek 609放大器（±4 kV，20 mA）
4.安捷倫4284A或E4980A精密LCR計
5.帶液氮冷卻（-184 C至315 C）和高壓安全聯(lián)鎖的溫度室。
6.所有連接高壓和通信電纜。 |
