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寬帶交鑰匙介電譜
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低成本交鑰匙介電測試系統(tǒng)，通過無縫集成，測量介電常數(shù)（電容）和損耗因數(shù)，作為溫度的函數(shù)：
高精度LCR計（阻抗分析儀），寬頻率范圍（20 Hz至1 MHz或110 MHz，或0.01 Hz至1 MHz，與使用的LCR計類型有關(guān)）
獨特的五通道測試夾具，可測量100 pF樣品的損耗系數(shù)低至0.05%。
帶液氮冷卻的溫度箱，-180℃至250℃，等溫試驗或加熱/冷卻斜坡試驗
執(zhí)行自動測試和數(shù)據(jù)保存的計算機程序。
雖然一些商業(yè)測試系統(tǒng)對年輕研究人員來說可能昂貴得令人望而卻步（10萬美元），但如果客戶愿意使用翻新的高質(zhì)量LCR儀表（如傳說中的HP/Agilent 4284A 20 Hz至1 MHz），我們的測試系統(tǒng)損耗很低，并且可以顯著降低。
五通道功能對于正在開發(fā)介電材料并希望快速測量介電常數(shù)和損耗因數(shù)（作為溫度和頻率的函數(shù)）以執(zhí)行成分優(yōu)化的客戶來說非常重要。
對于有興趣在寬頻率范圍內(nèi)研究介電弛豫過程的客戶，我們還提供了第二個測試系統(tǒng)，可以將頻率范圍擴展到0.01（0.1）Hz至1 MHz，但價格仍然合理。 |
